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JILA的研究人员近日开发出一种新型显微镜，它可以以前所未有的规模检查超宽带隙半导体（如金刚石）材料。这种显微镜利用了深紫外激光技术，能在纳米尺度上观测材料的电子、热和机械特性。据介绍，该技术通过高能深紫外激光在材料表面形成纳米级干涉图案，可观察这种图案如何随时间衰减，并提供高达287纳米的空间分辨率。相关研究成果已发表在《物理评论审查》上。