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芬兰阿尔托大学的物理学家与国际合作团队合作的一项理论和实验研究表明，超导量子比特的相干性损耗可以通过直接测量承载量子比特的电路中的热耗散来进行观察。他们在实验中观察了调整单个约瑟夫森结处电压的影响，然后通过在该结旁边放置一个超灵敏的热吸收器，使他们能够在高达100GHz的宽频率范围内被动测量该结在每次相变时发出的微弱辐射。该研究已于8月22日发表在《自然纳米技术 》杂志上。