创新的傅里叶量子过程断层扫描技术可大大减少表征所需的测量次数

渥太华大学量子技术研究所的研究人员开发了一种名为傅里叶量子过程断层扫描(FQPT)的创新技术,可用于评估量子电路性能,它允许以最少的测量次数对量子操作进行完整表征。FQPT没有进行大量的投影测量,而是通过利用映射傅里叶变换在两个不同的数学空间中执行部分测量。这些空间之间的物理关系增强了从单次测量中提取的信息,并大大减少了所需的测量次数。

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