领先的半导体测试和测量设备供应商FormFactor昨日正式推出了了“IQ2000”，这是一种新的芯片测试低温探针系统，它能够在不到一小时的时间内将设备从室温冷却到4K的温度。新功能极大地加快了对量子控制芯片、低温CMOS、光子器件、铌基电路和其他需要超低温环境的应用的测试。量子开发人员现在可以在不使用液态制冷机的情况下从快十倍的冷却速度中受益，从而获得全面的统计数据并加速量子开发周期。

传统的低温芯片探测方法可能需要24小时或更长时间才能将设备从室温冷却到4K的温度。为了消除90%以上的非生产性开销，IQ2000创新的负载锁定室和低温探头提供免工具设备更换，且不需要预热或打开超冷测试环境。为了进一步加速测试，它还提供了一个高密度电探针接口，以实现高带宽、并行接口器件接触。

IQ2000的主要特性包括：借助负载锁定室更快地获取数据，从而在低温环境中将设备循环速度提高了10倍；有<2K或<4K基础温度的选项，具有高冷却功率(>200mW @ 4K)；有多达128个低频信号和多达28个高带宽(>12.5GHz)接口，可使用FormFactor领先的探针卡技术进行并行设备测试；有用于稳定设备接触和低噪音测量的低振动系统。

FormFactor的高级副总裁兼新兴增长业务部总经理Amy Leong表示：“量子测试工程师长期以来一直在努力解决吞吐量有限的问题，因为每个设备都需要时间冷却。借助IQ2000，我们消除了热循环障碍，同时实现了并行探针测试。我们很高兴将这些新功能带入到量子社区，以加快他们的量子开发进程。”（编译:Qtech）