德国科学家开发出可更轻松快速检测二维拓扑材料的新方法
近日,来自德国的研究人员开发了一种可更轻松、更快速检测二维拓扑材料的新方法,他们利用二向色性光电发射技术来检测电子不同轨道上的角动量,再通过对数据进行分析来判断材料是否是拓扑结构。这一突破可能有助于加速对二维拓扑材料的研究,该研究成果已发表在最新的《物理评论快报》杂志上。
近日,来自德国的研究人员开发了一种可更轻松、更快速检测二维拓扑材料的新方法,他们利用二向色性光电发射技术来检测电子不同轨道上的角动量,再通过对数据进行分析来判断材料是否是拓扑结构。这一突破可能有助于加速对二维拓扑材料的研究,该研究成果已发表在最新的《物理评论快报》杂志上。