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IBM日前推出了一个新指标以更好的对量子处理器性能进行基准测试，他们称为“层保真度”（即每层门误差，简称EPLG，是一种测试质量/规模的指标），并且重新更改了CLOPS（即每秒电路层操作数，速度指标）的计算方式以与层保真度的方法保持同步。层保真度可以将大型电路的随机基准测试数据结合起来，从而获得有关整个处理器及其量子比特子集的信息。而新的“CLOPS_h”指标会考虑不同硬件体系有着不同的运行方式，更能客观的对量子硬件进行性能评估。