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在最近发表于《自然》杂志上题为“随机电路采样中的相变”的论文中，谷歌研究人员将随机电路采样（RCS）作为一种评估含有噪声的量子计算机的性能的方法。这项研究揭示了两种不同的相变，它们会随着噪声强度和处理器量子比特数量的变化而控制量子计算机的行为。该工作再次肯定了RCS在大规模实验中的可靠性，并加强了其作为当前量子设备性能指标的有效性。其研究结果表明，与2019年的结果相比，在相同保真度下，电路体积增加了两倍。此外，即使在当前的噪声水平下，嘈杂的量子计算机也有可能胜过超级计算机。